PZ-FLIM-110 压电扫描 FLIM 系统将 bh 的多维 TCSPC 技术与 Mad City Labs 的压电扫描仪相结合。扫描仪由 bh GVD-120 扫描仪控制卡控制，FLIM 数据由 SPC-150 或 SPC-160 TCSPC / FLIM 模块记录。扫描和数据采集均由 64 位 bh SPCM TCSPC 软件控制。系统可进行 X-Y 扫描、X-Z（垂直）扫描，并同时记录 FLIM 和 PLIM 数据。系统能够扫描最大 2048 x 2048 像素的图像，同时记录每个像素 256 个时间通道的衰变数据。在 512 x 512 像素下，衰变曲线最多可记录 4096 个时间通道。因此，FLIM 数据的空间和时间分辨率都非常高。512 x 512 像素图像的扫描时间约为 100 至 300 秒，而 2048 x 2048 像素图像的扫描时间可达 6 分钟或更长。这意味着采集时间通常取决于扫描仪的速度，而不是获取足够数量光子所需的时间。如果可以忍受较慢的扫描速度，PZ-FLIM-110 则是振镜扫描系统的一种经济高效的替代方案。更多详情，请参阅应用说明“PZ-FLIM-110 压电扫描 FLIM 系统“。
左图：卷柏样本的寿命图像。 三重指数衰变的强度加权寿命。 512 x 512 像素，每个像素 1024 个时间通道。40x NA1.3 油浸镜头，有效针孔尺寸 3 AU。中间：选定像素的衰变曲线。右图bh PZ-FLIM-110 压电扫描系统的照片。 尼康 TE2000 显微镜、连接到左侧端口的 PZ-FLIM 光学组件、BDL-SMN ps 二极管激光器、Mad City Labs Nano-View 200-3 压电系统、bh Simple-Tau TCSPC 系统。
