- 用于纳米技术和 NT-MDT 的 NSOM 系统
- 利用 bh 的多维 TCSPC 技术进行记录
- 结合原子力和荧光寿命信息
- 通过 HPM-100 混合探测器实现高灵敏度
- 出色的时间分辨率
- 出色的时间稳定性
- 长采集时间下时间分辨率无衰减
- 荧光和磷光寿命成像
- 使用bh SPCImage NG进行 FLIM 数据分析
- 请参见bh TCSPC 手册，"时间分辨光学近场显微镜 "部分
说明
扫描近场光学显微镜（SNOM 或 NSOM）结合了原子力显微镜和激光扫描显微镜的原理。一个锋利的尖端在样品上扫描，并保持与单个分子直径相当的距离。针尖可以是锥形光纤的末端，激光通过光纤送入样品，见下图左侧。或者，通过显微镜物镜将激光聚焦到金属尖端，从而对其进行照射。尖端的蒸发场用于探测样品结构（下图，右）。在这两种情况下，荧光光子都是通过显微镜物镜收集的。扫描由压电驱动的扫描平台完成。
由于 NSOM 采用扫描方式，因此很容易与bh TCSPC FLIM系统结合使用。通过 bh' SPCM 数据采集软件的常规成像程序记录数据。数据记录通过常用的像素、行和帧时钟脉冲与扫描仪同步。无需用户特定编程，数据可由标准 SPCImage NG数据分析软件处理。
bh TCSPC FLIM 系统可用于 Nanonics 和 MD-MDT 的 NSOM 系统，请参见相应的应用说明：
使用 Nanonics AFM/NSOM 系统的 NSOM FLIM
FLIM 系统也可适用于其他 NSOM 系统，请参见bh TCSPC 手册。