- 高吞吐量 PCIe 接口
- 前所未有的时间分辨率和出色的定时稳定性
- 时间通道宽度低至 203 fs
- 内部定时抖动（有效值）/IRF 宽度（FWHM）低至 1.1 ps / 2.8 ps
- 12 MHz 饱和计数率
- -NX 和 -NXX 版本是超快 HPM（混合）检测器和超导铌检测器的理想选择
- 精确的荧光衰减记录
- 高分辨率 FLIM、同步 FLIM / PLIM 和多波长 FLIM
- 光子相关性、单分子光谱学
- 适用于 Windows 10 / 11 的免费仪器软件
- 从 FLIM ROI 实时计算 FLIM 图像、FCS 曲线和衰减曲线
- 实时拟合 FCS 曲线
- 链接至 SPCImage NG 数据分析
- 多达 4 个模块的并行操作
- 提供多模块软件包，例如 SPC-182NX、SPC-183NX 和 SPC-184NX
说明
SPC-180N 是用于荧光寿命成像显微镜(FLIM) 的高性能模块，具有高时间分辨率。该板可用于荧光寿命测量、单分子光谱分析、FCS 和 FCCS 记录、FLIM、Mosaic FLIM、FLITS 以及 FLIM / PLIM 组合应用。该模块也是各种扫描显微镜 FLIM 升级的基础。
一般信息
SPC-180N 模块具有与 SPC-150N 系列相同的超快定时电子元件。模块有三种版本，时间范围和时间分辨率各不相同：
最小时间通道宽度
SPC-180N: 813 fs
SPC-180NX: 405 fs
SPC-180NXX: 203 fs
内部定时抖动 (RMS) / IRF 宽度 (FWHM)
SPC-180N：2.5 ps / 6.6 ps
SPC-180NX: 1.6 ps / 3.5 ps
SPC-180NXX: 1.1 ps / 2.8 ps
-NX 版本，尤其是 -NXX 版本，专为超快探测器、SSPD 和超快混合探测器而设计。
所有 SPC-180N 系列模块都具有高速 PCI-Express (PCIe) 接口。新接口可实现极高的数据传输速率。有了 SPC-180N 系列模块，在快速 FLIM 应用中就不太可能出现总线饱和和 FIFO 溢出的情况。为了进一步促进快速 FLIM，SPC-180N 系列模块配备了一个与 TCSPC 定时电子元件并行的快速计数器。这使得数据采集软件能够建立 FLIM 图像，其强度在最高计数率下仍保持线性。
所有 SPC-180N 系列模块都具有高速 PCI-Express (PCIe) 接口，可轻松安装在几乎所有 PC 中，或配置为独立的定时装置。
包含测量软件
所有 SPC 系列模块均随附SPCM操作和测量软件。SPCM可在线计算和显示（2D、3D）在多种操作模式下获取的数据（衰减曲线、FLIM、FCS、FCCS）。SPCM软件正在不断开发中。SPCM会经常更新，增加新功能并修复错误。更多信息...
FLIM 和 FCS 数据分析
对于高级荧光寿命成像（FLIM）和单曲线数据分析，请使用SPCImage NG。
如需对动态效应进行高级可视化和分析，请使用SPCDynamics。
如需高级荧光相关光谱（FCS）和交叉相关（FCCS）数据分析，请使用Burst Analyzer。
定制编程库（DLL、LabVIEW）
规格
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SPC-180N |
SPC-180NX |
SPC-180NXX |
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光子通道 |
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原理 |
恒定分数鉴别器 (CFD) |
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鉴频器输入带宽 |
4 千兆赫 |
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时间分辨率（FWHM/RMS，电子） |
6.6 ps / 2.5 ps |
< 3.5 ps / 1.6 ps |
< 3 ps / 1.1 ps |
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IRF 最大时间差异（有效值） |
100 秒内 < 0.4 ps |
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最佳输入电压范围 |
-30 mV 至 -500 mV |
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最小输入脉冲宽度 |
200 ps |
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阈值 |
0 至 -500 mV |
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|
零交叉调整 |
-100 mV 至 100 mV |
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|
同步通道 |
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||||
|
原理 |
恒分数鉴频器 (CFD) |
||||
|
鉴频器输入带宽 |
4 千兆赫 |
||||
|
最佳输入电压范围 |
-30 mV 至 -500 mV |
||||
|
最小输入脉冲宽度 |
200 ps |
||||
|
阈值 |
0 至 -500 mV |
||||
|
频率范围 |
0 至 150 MHz |
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|
分频器 |
1, 2, 4 |
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|
零交叉调整 |
-100 mV 至 100 mV |
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时幅转换器/ADC |
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原理 |
斜坡发生器/偏置放大器 |
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TAC 范围 |
50 ns 至 5 µs |
25 ns 至 2.5 µs |
12.5 毫微秒至 125 毫微秒 |
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偏置放大器增益 |
1 至 15 |
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偏置放大器偏移（TAC 范围） |
0 % 至 50 |
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时间范围（包括偏置放大器 |
3.3 ns 至 5 µs |
1.67 ns 至 2.5 µs |
0.834 ns 至 125 ns |
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最小时间时间通道宽度 |
813 fs |
407 fs |
203 fs |
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ADC 原理 |
50 ns 带纠错功能的闪存 ADC |
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差分非线性 |
< 0.5 % 有效值，典型值 < 1 % 峰峰值 |
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数据采集 |
直方图模式 |
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方法 |
板载多点直方图绘制过程 |
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死区时间 |
80 ns，与计算机速度无关 |
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饱和计数率 |
12 兆赫 |
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最大计数/时间通道 |
16 位 |
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溢出控制 |
无、停止、重复和更正 |
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采集时间 |
0.1 微秒至 100,000 秒 |
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重放间隔时间 |
10 毫秒至 100,000 秒 |
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重复时间 |
0.1 微秒至 100,000 秒 |
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序列记录 |
可编程硬件序列器，通过内存交换、曲线模式和扫描模式进行无限制记录 |
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扫描同步 |
来自扫描设备的像素、线和帧 |
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路由 |
7 位，TTL |
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实验触发器 |
TTL |
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数据采集 |
先进先出/参数标记模式 |
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方法 |
对单个光子进行时间和波长标记并连续写入磁盘 |
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在线显示 |
衰减函数、FCS、交叉-FCS、PCH MCS 曲线 |
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FCS 计算 |
Multi-tau 算法、在线计算和在线拟合 |
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衰减次数/波形记录 |
无限制 |
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死区时间 |
80 毫微秒 |
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饱和计数率，峰值 |
12 兆赫 |
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持续计数率（总线传输限制） |
典型值 5 MHz |
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最大计数/时间通道（计数深度） |
无限制 |
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输出数据格式（ADC/宏时间/路由） |
12 / 12 / 4 |
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先进先出缓冲器容量（光子） |
2 *106 |
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|
宏定时器分辨率，内部时钟 |
25 ns，12 位，溢出时在数据流中以 MOTF 条目标记 |
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|
输入宏定时器分辨率，同步时钟 |
10 ns 至 100 ns，12 位，溢出由数据流中的 MOTF 条目标记 |
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输入曲线控制（外部路由） |
4 位，TTL |
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外部事件标记 |
4 位，TTL |
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输入计数使能控制 |
1 位，TTL |
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|
输入实验触发器 |
TTL |
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数据采集 |
先进先出/参数标记成像模式 |
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方法 |
从时间和波长标记数据建立图像 |
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在线显示 |
在不同的时间和波长窗口中最多可显示 8 幅图像 |
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与扫描仪同步 |
通过帧时钟、行时钟和像素时钟脉冲 |
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探测器/波长通道 |
1 至 16 |
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图像分辨率（64 位 SPCM 软件） |
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时间通道数 |
64 |
256 |
1024 |
4096 |
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像素数，1 个检测器通道 |
4096 x 4096 |
2048 x 2048 |
1024 x 1024 |
512 x 512 |
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像素数，16 个检测器通道 |
1024 x 1024 |
512 x 512 |
256 x 256 |
128 x 128 |
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操作环境 |
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电脑系统 |
Windows 8 / 10，> 8 GB 内存，建议使用 64 位操作系统 |
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电脑接口 |
PCIe |
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功耗 |
约 12 W（+12 V |
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尺寸 |
230 毫米 x 130 毫米 x 18 毫米 |
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文件
原则
bh SPC 模块采用多维 TCSPC 原理。该原理是经典 TCSPC 过程的延伸：探测器检测周期性光信号的单光子。TCSPC 电子装置测量信号（激发）周期内的光子时间，并建立信号周期内的光子分布。TCSPC 过程的时间分辨率远高于使用相同探测器进行模拟记录的分辨率：光子脉冲时间的测定精度远远高于其宽度。
在传统工艺的基础上，bh 技术还能确定光子的其他参数，如波长、图像区域内的原点、激发波长、样品受到外部刺激的时间、激发光额外调制周期内的时间。光子分布是根据信号周期内的光子时间和其中一个或多个附加参数建立起来的。这一过程的结果是多波长荧光衰变数据、荧光寿命图像、多波长寿命图像、多激发衰变数据或多激发 FLIM 数据、样品内快速动态变化的衰变数据或 FLIM 数据，或荧光/磷光衰变组合数据或FLIM/PLIM数据。另请参阅 "bh TCSPC 技术"。
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