6.0 版 SPCImage FLIM 分析软件将时域衰变分析与相位图相结合。在相位图中，单个像素的衰变数据以极坐标图中的相位和振幅值表示。与像素在图像中的位置无关，具有相似衰变特征的像素会在相位图中形成簇群。
可以在相位图中选择不同的簇，并在时域 FLIM 图像中对相应的像素进行反标注。所选相位范围内像素的衰变函数可合并成一条高光子数衰变曲线。该曲线的分析精度可媲美比色皿中的单点衰减测量。因此，可以从数据中识别出低振幅衰变成分或寿命几乎相似的衰变成分。下图给出了上述数据中不同相位范围的示例。
有关详情，请参阅应用说明 “新版 SPCImage 将时域分析与相位图相结合“。
左图： 寿命图像和寿命直方图。左中：相位图。相位图中的群组代表寿命图像中不同寿命的像素。由 bh Simple-Tau 152 FLIM 系统和 Zeiss LSM 880 拍摄。右图在相位图（左）中选择相位群。 将相应像素的衰变数据组合成一条衰变曲线（中）。在相位图中显示所选群组对应的像素（右图）。从上到下：选择不同的相位群组可选择具有不同衰变特征的单元格。
